产品简介：

XI810高速分立器件测试系统＊多可支持4 个测量单元，可以通过非同步测量的并行测量架构、支持高速并测和分站测试，具有实时波形采集显示功能等，提供更高的资源集成、超高速的测试能力。支持二极管、晶体管、MOSFET、IGBT、晶闸管、三端稳压器、光耦等器件的测试应用。可应对客户多样化应用场景，支持测试功能扩展，以更低的成本支出满足分立器件测试应用需求。

主要特点：

· ＊多可扩展到4测试头配置、独立并行测试、可同时连接四台分选机

· 软硬件功能模块选件：JFET测量模块、动态PAT、空侧补偿、漏电流自适应量程、仪器控制等软件功能

· 高速通讯总线板系统内置通讯接口，通过LAN和USB连接计算机总线、可连接分选机和探针台

· 具有GPIB控制接口，计算机通讯接口、多站通讯控制接口以及数据存储接口

· 功能板子系统包括高压、大电流、漏电流与时间参数测试功能组件

· 电源子系统包括电源转换、控制保护、滤波EMC等功能