产品信息
MS7000
详细说明

产品简介:

MS7000MTS自研的一款可以支持两个STATION独立并测功能的TWIN结构数模混合测试系统,具有单测试头及双测试头二种配置型号支持浮动源OptionMS7000测试系统采用全新的系统架构,拥有丰富的用户资源,具有灵活性、扩展性、易升级、易维护的特点,是一款高效低成本的集成电路测试系统。 在通用测试总线架构上,一台测试设备可以同时集成高速数字测试、模拟、高压源、大电流、混合信号和RF射频等测试选件。MS7000测试系统以驱动芯片、电源管理芯片、接口芯片和运放、MCU等芯片为测试目标市场,可以实现两个STATION独立的8SITE TTL并行测试,并测效率高达99.5%以上。



主要特点:

·双并发结构,相当于两个测试机

·主机箱12个模拟插槽

·测试盒4个数字插槽

·子母卡结构,灵活的选配方案

·16个站点并行测试,并测效率>99.5%

·多达196CHV/I

·V/I源具有AWG/Digitizer功能

·33MHz数字测试速率

·高电压,+1000V/16mA

·VC编程环境

·具有自动温度保护功能

·支持PAT功能